技術參數(shù)及要求

1、檢測元素：可用于礦石、合金環(huán)境中金屬元素，Mg、Al、Si、P、S、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Hf、Ta、W、Hg、Se、Au、Br、Pb、Bi、Zr、Nb、Mo、Ag、Cd、Sn、Sb、Re、Ir、Pt、Hg、Ru、Rh、Pd等元素。（紅色為SDD探測器配置）

2、探測器：美國Moxtek Si-pin（6 mm2）、美國Amptek Si-pin（25 mm2）、德國KETEK SDD探測器 

3、激發(fā)源：大功率微型直板X射線管，W靶材，4W大功率X射線管，管電壓50KV，管電流最大可達100μA；

4、采用KMX技術，更高X射線計數(shù)率，超低電子噪聲設計。每次測試前，不需要外部標樣，自動能量校準核查；

5、濾光片：配置8個濾光片，可根據(jù)測試元素自動切換；

6、測試方法：基本參數(shù)法，支持經(jīng)驗系數(shù)法修正

7、點觸或扣動扳機控制測試開始，測試過程無需長扣扳機。根據(jù)客戶需求，也可以一直按著扳機測試樣品。

8、操作系統(tǒng)：Window CE 6.0操作系統(tǒng)，安全、放心

9、自診斷功能：儀器可自動對硬件、軟件、網(wǎng)絡、電池等進行診斷，并會生成日志，便于快速排查出故障

主要配置要求:

1 分析儀主機1套；

2 標準樣品1個；

3 原裝可充電鋰電池2塊；

4 充電座及電源線；

5 U盤(32G)1個；

6 加強型聚丙烯膜5片；

7 標準手提防潮防震箱一只。